Número de pieza 3110

Semiconductor Device Test Set

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Número de pieza
Desmilitarización
Vigencia
UOM
NIIN
Número de pieza:
3110
Desmilitarización:
No
Vigencia:
N/A
Unidad de medida:
1 EA
NIIN:
011521697
NSN
Número de acciones nacionales:
6625-01-152-1697 6625011521697
TXT
Descripción:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
Código de nombre del artículo:
25006
MRC:
A measurement taken at right angles to the length of an item,in distinction from thickness.ABGL
Width:
250.0 millimeters
MRC:
The value,or range of values,of root mean square potential for which the item is rated.ACYN
Ac Voltage Rating:
115.0 volts
MRC:
The number of complete cyclic changes,per unit of time,for which an item is rated.ACZB
Frequency Rating:
60.0 hertz
MRC:
A linear measurement from the surface to a specified inner point on an item,in distinction from height.AEJZ
Depth:
286.0 millimeters
MRC:
The national stock number or the identification information of the end equipment for which the item is a part.AGAV
End Application:
Nsn 5826-00-117-7747 calibration bench mock up
MRC:
The relationship of the electrical power source to the item.AKWC
Electrical Power Source Relationship:
Operating
MRC:
An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ
Inclosure Feature:
Single item w/housing
MRC:
Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY
Test Type For Which Designed:
In-circuit testing of components
MRC:
The number of alternating current phases.FAAZ
Phase:
Single
MRC:
A measurement from the bottom to the top of an object,in distinction from depth.HGTH
Height:
86.0 millimeters

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